大塚電子

作為世界500強企業之一的大冢集團，其旗下日本大塚電子集團的子公司大塚電子以“多樣性”、“創新性”和“全球化”作為基本方針，并融合了自公司成立以來積累的核心技術，為用于光學特性測試的測量儀器、分析儀器提供從銷售到售后的全面服務支持，包括偏光片測試儀、位相差測試儀、液晶Cellgap測試儀、ColorFilter色度機、膜厚測試儀、透過率測試儀、反射率測試儀、等，可以滿足納米技術、高分子化學、新材料、食品、半導體和醫藥等諸多領域從研發到質量管理各方面的需求，擁有精度高、測試快、操作簡便、市場占有率高、客戶群體廣的特點及優勢。

01、顯微分光 OPTM series

產品介紹：

非接觸、非破壞式，量測頭可自由集成在客戶系統內

初學者也能輕松解析建模的初學者解析模式

高精度、高再現性量測紫外到近紅外波段內的絕對反射率，可分析多層薄膜厚度、光學常數（n：折射率、k：消光系數）

單點對焦加量測在1秒內完成

顯微分光下廣范圍的光學系統（紫外 ~ 近紅外）

獨立測試頭對應各種inline定制化需求

最小對應spot約3μm

獨家專利可針對超薄膜解析nk

 02、光波動場三次元顯微鏡 MINUK

產品介紹：

MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。
且無需對焦，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
通過一次拍照即可獲取深度方向的信息，可以將透明薄膜表面上肉眼不可見的劃痕和缺陷的橫截面形狀數值化實現可視化。